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edx能譜光譜分析儀是一款X射線(xiàn)無(wú)損設(shè)備，主要應(yīng)用于合金檢測(cè)、鍍層分析、ROHS有害物質(zhì)測(cè)試、礦石元素分析、土壤分析等元素含量分析，天瑞儀器是專(zhuān)業(yè)EDX能譜分析儀生產(chǎn)廠家，分析儀器上市公司。

天瑞EDx射線(xiàn)熒光譜分析儀是一種較新型的可以對(duì)多元眾進(jìn)行快速同時(shí)側(cè)定的儀器。在X射線(xiàn)激發(fā)下，被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線(xiàn)（即X一熒光）.波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線(xiàn)所采用的兩 EDx射線(xiàn)熒光譜分析儀EDX3600H是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類(lèi)型。

天瑞X熒光光譜儀EDX3600K由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測(cè)樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線(xiàn)），探測(cè)器對(duì)X熒光進(jìn)行檢測(cè)。X熒光光譜儀屬于良好的分析檢測(cè)儀器，隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類(lèi)分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)。

國(guó)內(nèi)X熒光光譜儀Edx9000p正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)良好的極速探測(cè)器技術(shù)（X-SDD）可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX 9000P還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開(kāi)發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓準(zhǔn)確檢測(cè)得到保證。

XRF熒光光譜儀EDX4500H是一種較新型的可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線(xiàn)激發(fā)下，被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線(xiàn)（即X熒光）。波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來(lái)觀察描述X射線(xiàn)所采用的兩個(gè)物理量。