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X熒光光譜儀
EDX THICK 800鋁塑膜厚度測(cè)量?jī)x X射線光譜法 天瑞儀器
鋁塑膜厚度測(cè)量?jī)x X射線光譜法 天瑞儀器
product
產(chǎn)品分類品牌 | SKYRAY/天瑞儀器 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
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能量分辨率 | 128eV | 價(jià)格區(qū)間 | 30萬(wàn)-50萬(wàn) |
儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,汽車及零部件 |
鋁塑膜厚度測(cè)量?jī)x X射線光譜法 天瑞儀器產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置
鋁塑膜是軟包電池的核心封裝材料,由鋁箔、聚合物層及粘合劑復(fù)合而成,兼具輕量、高阻隔與柔性,其性能直接決定電池安全與壽命。沖坑后邊緣形成的R角是封裝薄弱區(qū),如果R角厚度不均勻,可能導(dǎo)致泄漏、材料強(qiáng)度下降或破損,進(jìn)而影響產(chǎn)品的性能和安全性,精準(zhǔn)測(cè)量R角厚度是保障產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵質(zhì)檢環(huán)節(jié)。
R角測(cè)試方法 | 切片測(cè)試橫截面 | X熒光厚度測(cè)試 |
原理 | 對(duì)樣品切片后,測(cè)量橫截面的尺寸 | X光鍍層厚度吸收法快速 |
優(yōu)點(diǎn) |
厚度可以直觀觀測(cè)到 | 快速,無(wú)損,高精度,可重復(fù), 可對(duì)整個(gè)R角進(jìn)行面掃描 |
缺點(diǎn) | 1:耗時(shí)長(zhǎng),測(cè)一個(gè)點(diǎn)通常需要一個(gè)小時(shí)到兩個(gè)小時(shí) 2:人為操作,誤差大 3:需要持續(xù)消耗耗材 4:精度較低 |
數(shù)據(jù)結(jié)果的準(zhǔn)確性無(wú)法直觀觀測(cè) |
流程 | 剪膜→鑲嵌→切片→磨片→測(cè)量→記錄 | 剪膜→上夾具→測(cè)量 |
EDXThick800是一款全新上照式多功能自動(dòng)微區(qū)X熒光膜厚測(cè)試儀,既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測(cè)功能,又可滿足有害元素檢測(cè)及輕元素成分分析;搭載自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維系統(tǒng)、雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng),可多點(diǎn)位編程測(cè)試,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量。